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技術(shù)文章
  • 2023

    9-19

    截面紋影成像深度解析材料內(nèi)部的奧秘

    截面紋影成像是一種重要的研究材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)與特性的非破壞性檢測技術(shù)。通過此技術(shù),可以觀察材料截面的結(jié)構(gòu)、組分、缺陷等信息,為科學(xué)研究和工程應(yīng)用提供了有力的支撐。本文將深入探討截面紋影成像技術(shù)的原理、應(yīng)用和未來發(fā)展方向。截面紋影成像技術(shù)基于電子、光學(xué)或其他輻射的相互作用原理,對材料內(nèi)部進行觀察和分析。其中,主要的技術(shù)包括透射電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、透射光學(xué)顯微鏡、X射線顯微鏡等。這些技術(shù)通過與材料相互作用,生成相應(yīng)的影像,用以研究樣品的結(jié)構(gòu)、組成及性質(zhì)。透...
  • 2023

    8-20

    粒子圖像測速儀有哪些優(yōu)點?

    粒子圖像測速儀(PIV)是一種非接觸式激光光學(xué)測量技術(shù),用于研究和診斷流動,湍流,微流體,噴霧霧化和燃燒過程。PIV系統(tǒng)主要包含時序控制器、計算機及PIV應(yīng)用軟件、圖像記錄儀、光學(xué)照明系統(tǒng)等四大部分,用光學(xué)方法對氣流、液流場內(nèi)部進行流動測量和結(jié)構(gòu)研究,是傳統(tǒng)的流動顯示技術(shù)的發(fā)展成果。高頻PIV是流體力學(xué)研究中發(fā)展方向,時間分辨率PIV:高頻TR-PIV受益于CMOS相機技術(shù)的進步,以全分辨率下高達25600fps(每秒幀數(shù))的幀速率獲得高分辨率PIV圖像。粒子圖像測速和粒徑測...
  • 2023

    8-15

    光子多普勒測速儀的選型要掌握以下內(nèi)容

    光子多普勒測速儀是基于多普勒效應(yīng)原理設(shè)計的一種測速裝置。它利用激光器發(fā)射出的高頻光束,通過與移動目標(biāo)表面反射后的光束進行干涉,測量出目標(biāo)的運動速度。根據(jù)多普勒效應(yīng),當(dāng)物體靠近光源時,反射回來的光的頻率比入射光的頻率高;而當(dāng)物體遠(yuǎn)離光源時,反射回來的光的頻率比入射光的頻率低。通過測量頻率的變化,我們可以得到物體的速度。光子多普勒測速儀具有非常高的測量精度,可以準(zhǔn)確地測量物體的速度,尤其適用于高速和微小尺寸的目標(biāo)。無需直接接觸被測物體,只需要通過激光束進行遠(yuǎn)距離測量,不會對被測物...
  • 2023

    8-11

    簡單介紹彩色紋影儀的應(yīng)用與魅力

    在現(xiàn)代科技的推動下,各種先進的設(shè)備和工具不斷涌現(xiàn),為我們帶來了更多便利和創(chuàng)新。其中,彩色紋影儀作為一種精密測量設(shè)備,在許多領(lǐng)域中展示出其的應(yīng)用價值。本文將介紹彩色紋影儀的定義、原理、特點以及其在科學(xué)研究、藝術(shù)設(shè)計和工業(yè)制造等方面所帶來的益處。彩色紋影儀是一種高精度光學(xué)測量設(shè)備,能夠?qū)崟r捕捉并記錄物體表面微小變形產(chǎn)生的干涉圖案。該設(shè)備利用光源對物體進行照射,并通過接收反射或透射回來的光線來生成干涉圖案。通過對這些干涉圖案進行處理和分析,可以獲取物體表面形貌和變形信息。與傳統(tǒng)測量...
  • 2023

    8-8

    紋影儀的用途有哪些?

    流場密度的變化與介質(zhì)折射率有線性關(guān)系,密度的變化直接反映為折射率變化。折射率的變化將引起光線的偏折,從而引起像面照度的變化,形成不規(guī)則的明暗條紋。利用這一原理進行折射率變化的測試即為紋影技術(shù),該技術(shù)可用于觀察氣體介質(zhì)、液體及透明固體材料中由于火花放電、爆炸、流動、受力所引起的物理運動過程。紋影儀(光學(xué)流場顯示儀)是采用紋影方法顯示透明介質(zhì)密度和溫度分布在介質(zhì)中折射率變化的通用光學(xué)流場顯示儀器,為研究分層流、多項流、超聲速流、傳熱與傳質(zhì),自然與強迫的燃燒、火焰、爆炸,等離子體、...
  • 2023

    7-30

    反射式光彈儀的兩種形式介紹

    常用的反射式光彈儀有兩種形式:一種的光學(xué)元件作V形布置,稱為”字形反射式光彈性儀;另一種則作T形布置,稱為直角式反射式光彈性儀。兩種反射式光彈性儀的特點都是光線兩次通過光敏薄層。這樣,用反射式光彈性儀觀察到的等色線相當(dāng)于材料的敏感度提高了一倍。目前生產(chǎn)的反射式光彈儀都向小型、輕型和自動化方向發(fā)展。有的反射式光彈儀已發(fā)展成有多種專用附件,如用于動態(tài)應(yīng)力分析的頻閃燈、電影攝影機及光敏檢測和記錄設(shè)備;用于精密的逐點測量的各種補償器;用于斜射的各種裝置等。數(shù)碼光彈儀采用光學(xué)靈敏性材料...
  • 2023

    7-27

    數(shù)碼光彈儀解讀物體表面的微小振動

    數(shù)碼光彈儀是一種先進的光學(xué)測量設(shè)備,通過利用激光束對物體表面進行掃描和監(jiān)測,可以精確地測量物體在微觀尺度下的振動和變形情況。本文將介紹數(shù)碼光彈儀的原理、工作方式以及其在多個領(lǐng)域中的應(yīng)用。一、數(shù)碼光彈儀基于三角測量原理,使用激光束照射到物體表面,并通過相機記錄激光點在圖像上的位置。根據(jù)這些位置信息以及已知參數(shù),可以計算出物體表面上各點的位移和變形情況。這種技術(shù)主要依賴于激光線性衍射效應(yīng)和相機成像處理。二、工作方式:標(biāo)定:為了獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果,首先需要對數(shù)碼光彈儀進行標(biāo)定。通過...
  • 2023

    7-18

    光纖探針爆速測量儀—超越傳統(tǒng),實現(xiàn)高效測量

    在當(dāng)今科技快速發(fā)展的時代,精準(zhǔn)、高效的測量設(shè)備對于各行各業(yè)都起著至關(guān)重要的作用。其中一款備受矚目的儀器是光纖探針爆速測量儀。本文將介紹這種先進設(shè)備的原理、功能和應(yīng)用領(lǐng)域。光纖探針爆速測量儀利用了最新的光學(xué)和計算機技術(shù)來進行快速而準(zhǔn)確的測量。其主要由兩部分組成:可移動式探頭和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)??梢苿邮教筋^包含一個微型鏡頭和一個靈敏度高的光電傳感器,通過使用光纖將信號傳輸?shù)綌?shù)據(jù)采集系統(tǒng)中進行處理。該裝置具有多項出色功能。首先,它能夠?qū)崟r監(jiān)測非常小尺寸或曲面形狀物體上特定區(qū)域內(nèi)涌入或噴...
  • 2023

    7-12

    走進光學(xué)干涉儀:探索精密測量的奇妙世界

    1.光學(xué)干涉儀是什么?光學(xué)干涉儀是利用光束之間的相互干涉現(xiàn)象進行測量和分析的裝置。它基于波動性理論,通過將兩個或多個光路上反射或傳播過程中產(chǎn)生的光束疊加在一起,并根據(jù)相位差來獲得被測物體表面形貌、薄膜厚度、折射率等信息。2.工作原理與分類常見的幾種典型光學(xué)干涉儀包括馬赫-曾德爾(Michelson)、白居易(Fizeau)、擴展大比例(ESPI)以及激光自由空間雨滴法等。其中,馬赫-曾德爾干涉儀是最常見和基礎(chǔ)的類型,利用分束器將光源分成兩個相干光路,在反射或傳播過程中與被測物...
  • 2023

    6-29

    一起來了解光學(xué)干涉儀的原理

    光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現(xiàn)象來測量長度、厚度、折射率等物理量的儀器,測量原理是利用光的波動性和干涉現(xiàn)象,通過測量光程差的變化來測量物體的形狀和表面特征。光程差是指兩束光在傳播過程中所經(jīng)過的光程差異,它是由物體表面形狀和折射率的變化所引起的。當(dāng)兩束光相遇時,它們會產(chǎn)生干涉現(xiàn)象,干涉圖樣的形狀和大小與光程差有關(guān),通過測量干涉圖樣的變化,可以得到物體表面的形狀和特征。光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調(diào)節(jié)器和檢測器。在工作時,光源發(fā)出的光線經(jīng)過分束器分成兩...
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